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LCR數(shù)字電橋技術(shù)問題

日期：2025-12-16 01:11

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摘要：

一. LCR數(shù)字電橋技術(shù)問題

1. 什么叫LCR數(shù)字電橋?

答:是一個傳統(tǒng)習(xí)慣的說法，*早的LCR測試就是一個真正的電橋平衡測試方法，現(xiàn)在一直沿用至今。

2.作為一個新用戶，怎樣選擇一款數(shù)字電橋？

答：（1）首先是看儀器的測試準(zhǔn)確度。

（2）看儀器的測試頻率。

（3）看儀器的測試電平。

其他視客戶使用具體情況而定，或者可以根據(jù)客戶的實(shí)際情況向同惠公司技術(shù)咨詢。

3頻率不同對元件測試有影響嗎?

答:有，詳見同惠網(wǎng)站技術(shù)支持5.阻抗測量基礎(chǔ)一文中的測試信號頻率信號相關(guān)性。

4.電壓不同對元件測試有影響嗎?

答: 有，詳見同惠網(wǎng)站技術(shù)支持5. 阻抗測量基礎(chǔ)一文中的測試信號電平信號相關(guān)性。

5.怎樣選擇測試電壓和頻率?

答:(1)根據(jù)被測件的實(shí)際應(yīng)用。

(2).根據(jù)相關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)。

(3).根據(jù)客戶自定要求。

6.對于一個已知的“電容”，客戶該選用什么樣的測試條件？

答(1)小于100pF電容用1MHZ頻率測量，中等容量如（1000pF-10uF）用1KHZ,10KHZ,100KHZ.國家標(biāo)準(zhǔn)測試中等電容的測試頻率標(biāo)準(zhǔn)是1KHZ。電解類如鋁電解，鉭電解等用100HZ或120HZ。

(2)從電平的角度說大部分電容對電平不敏感，不同電平測試變化不大，但有些介電常數(shù)大的電容與電平非常敏感，應(yīng)仔細(xì)選擇電平。

9.什么是損耗D,品質(zhì)因數(shù)Q?

答: D、Q 兩者互為倒數(shù)，其計算方法為被測器件的有功功率PR（電阻器耗能）與無功功率PC（電容器儲能）或PL（電感器儲能）的比值.對串聯(lián)和并聯(lián)等效電路使用下式計算：=Rs/|Xs|,D=|Xp|/Rp，D和Q的值與等效方式無關(guān)。

10.怎樣選擇串聯(lián)和并聯(lián)測試參數(shù)?

答: a、可以兩個不同的測試頻率下?lián)p耗因子的變化性來決定，若頻率升高而損耗增加，則應(yīng)選用串聯(lián)等效電路若頻率升高而損耗減小，則應(yīng)選用并聯(lián)等效電路。對于電感來說，情況正好與電容相反。實(shí)際中，器件的D 不可能與頻率完全成正比關(guān)系，其可能有并聯(lián)成分，也可能有串聯(lián)成分，應(yīng)看何種成分占主導(dǎo)。b、根據(jù)元件的*終使用情況來判定。如用于信號耦合電容，則*好選擇串聯(lián)方式，旁路或并聯(lián)諧振則使用并聯(lián)等效電路。C.習(xí)慣上說低阻抗元件用串聯(lián)，從數(shù)值上說阻抗小于100歐姆一定用串聯(lián)，大于10千歐用并聯(lián)，（100歐姆-10千歐）根據(jù)實(shí)際情況選擇。

11.什么叫等效串聯(lián)電阻Rs \并聯(lián)電阻Rp?

答:任何一個被測器件都可以等效為一個串聯(lián)電路或并聯(lián)電路. 串聯(lián)電阻Rs為串聯(lián)等效電路中的電阻部分，Rs也叫ESR. 并聯(lián)電阻Rp為并聯(lián)等效電路中的電阻部分，Rp也叫EPR。

12.怎樣選擇測試速度?

答:一般來說,測試速度是以犧牲測試精度為代價的:速度越快,精度越差，讀數(shù)穩(wěn)定性差，有效位數(shù)變少。如果要測試精度,一般選擇慢速，要考慮測試速度和測試精度就選擇中速。

13.儀器為什么要進(jìn)行清零?

答:因為1.由于儀器本身的漂移，會疊加一些雜散成份，如接觸電阻.電感.并聯(lián)電容等，則不清零就會有誤差。

2.短路清零對小阻抗器件更為有效，開路清零對高阻抗器件更有效。

15.什么是負(fù)載校準(zhǔn)，負(fù)載校準(zhǔn)應(yīng)注意哪些？

答：負(fù)載校準(zhǔn)是一種的**的儀器校準(zhǔn)方法，可以使儀器在高于儀器原有準(zhǔn)確度的基礎(chǔ)上測量元件，主要用于下面兩種情況：1.當(dāng)有更準(zhǔn)確的元件并需對同規(guī)格元件進(jìn)行更高準(zhǔn)確度的測量。2.統(tǒng)一現(xiàn)場所有LCR數(shù)字電橋的測試數(shù)據(jù)。3.使用負(fù)載校準(zhǔn)可以使儀器在更高精度下測試。

16.掃頻和點(diǎn)頻清零有何區(qū)別?

答: 1.掃頻一般針對實(shí)際測試頻率點(diǎn)比較多的被測元件,點(diǎn)頻清零一般針對只要一個頻點(diǎn)的被測元件.

2.但是掃頻清零會費(fèi)較長時間。

17.測量的顯示范圍和精度范圍有何區(qū)別?

答: 測量的顯示范圍一般大于精度范圍,具體精度計算可以參考同惠的相關(guān)技術(shù)資料。.

18.輸出阻抗不同對測試結(jié)果有什么影響，為什么有的儀器有30Ω”和100Ω的內(nèi)阻選擇？

答: 1.儀器輸出阻抗不同導(dǎo)致被測器件上信號不同,*終會導(dǎo)致顯示參數(shù)的不同.

2.測試時信號其實(shí)是被測件與儀器內(nèi)阻（輸出阻抗）串聯(lián)在一起，會對信號產(chǎn)生分壓作用。因此低阻抗測試實(shí)際加到器件上的電平小于設(shè)定電平。早先的電橋內(nèi)阻是量程自動變化的，目前同惠LCR內(nèi)阻一旦選定就不變化。30Ω兼容同惠較老電橋，100Ω能與Agilent的儀器匹配。

20.為什么L或C設(shè)置了,還不能進(jìn)行分選(還是判斷為不合格)?

答:儀器分選必須主副參數(shù)的極限標(biāo)準(zhǔn)同時設(shè)置,如只滿足其中一個條件還是會判斷為不合格。

21.儀器的P1\P2\P3有何具體意義?

答: 儀器的P1\P2\P3用于儀器的**,二級,三級品的分選. 一般**品的百分比極限小于二級品極限, 二級品的百分比極限小于三級品極限。

22.為什么同一個電感在不同廠家的LCR儀器上用相同測試條件,電感測試數(shù)據(jù)會有很大差別?

答:因為：1.絕大多數(shù)電感都帶有鐵芯磁芯，而帶有鐵芯磁芯的電感對其施加的磁場非常敏感，磁場與測試信號電流成正比，因此相同電平若內(nèi)阻不同，電流就會不一樣，則結(jié)果有很大差別。這是客戶電感測試時遇到的普遍問題。

2.判定儀器測試電感的一致性原則應(yīng)該是施加與被測件上的電流要一致，這其中有一個特例，就是空心電感與磁場不敏感的。

23.為什么有時器件會顯示”-”值?

答:因為： 1.過度清零。

2.儀器有限的準(zhǔn)確度。

25.儀器的自動和保持有什么實(shí)際作用?

答: 儀器的”自動”一般用于未知大小的元件的測試.”保持”一般用于大小已經(jīng)確定的元件測試, “保持”功能可以提高儀器的測試效率，保持也可以起到延長儀器內(nèi)部繼電器的使用壽命。